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题名:
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集成电路芯片测试技术 / 居水荣，戈益坚, 戴志强，石兰参 , |
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ISBN:
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978-7-5606-5954-1 价格： CNY35.00 |
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语种:
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chi |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 西安电子科技大学出版社 出版日期： 20210101 |
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索书号:
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1 |