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题名:
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集成电路芯片测试技术 [ 专著] ji cheng dian lu xin pian ce shi ji shu / 居水荣，戈益坚主编 , |
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ISBN:
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978-7-5606-5954-1 价格： CNY35.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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200页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 西安 出版社： 西安电子科技大学出版社 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。 |
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主题词:
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集成电路 芯片 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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居水荣 ju shui rong 主编 |
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主要责任者:
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戈益坚 ge yi jian 主编 |
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附注:
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高职高专电子信息类系列教材 “十三五”江苏省高等学校重点教材 |
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索书号:
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1 |