题名:
MEMS集成设计技术及应用   / 苑伟政,谢建兵,焦文龙著 ,
ISBN:
978 7 118 09583 8 价格:
出版发行:
出版地: 出版社: 国防工业出版社 出版日期: 2014.11
内容提要:
全书共分六章,第一章简述微米纳米器件测试技术的发展、意义和研究现状,第二章介绍微米纳米结构的特征几何参量测量技术,第三章介绍微米纳米结构的动态特性测试技术,第四章介绍微米纳米力学量测试技术,第五章介绍MEMS在线测试技术,第六章介绍几种典型的微米纳米器件测试技术。 
主题词:
工业技术>无线电电子学、电信技术>微电子学、集成电路(IC)  
中图分类法:
TN4 版次: