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题名:
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单板级JTAG测试技术 / 王承，刘治国编著 , |
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ISBN:
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978 7 118 09986 7 价格： |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2015.06 |
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内容提要:
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本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。 |
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主题词:
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工业技术>无线电电子学、电信技术>微电子学、集成电路（IC）>一般性问题>测试和检验 |
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中图分类法:
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TN407 版次： |