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题名:
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电子元器件失效分析技术 / 恩云飞，来萍，李少平编著 , |
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ISBN:
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978 7 121 27230 1 价格： |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2015.11 |
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内容提要:
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本选题是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。 |
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主题词:
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工业技术>无线电电子学、电信技术>电子元件、组件 |
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中图分类法:
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TN6 版次： |