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题名:
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公差配合与几何精度检测 / 王宇平主编 , |
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ISBN:
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978 7 115 28968 1 价格： |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 人民邮电出版社 出版日期： 2012.09 |
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内容提要:
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书分为3篇，即三项基本精度、技术测量基础和典型零件精度与检测。内容包括：尺寸精度、几何精度、表面精度、检测基础理论、三项基本精度检测、滚动轴承精度与检测、键联接精度与检测、圆锥精度与检测、螺纹精度与检测、圆柱齿轮精度与检测等。 |
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主题词:
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工业技术>金属学与金属工艺>公差与技术测量及机械量仪>一般性问题>公差与技术测量的理论 |
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中图分类法:
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TG801 版次： |