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题名:
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国外集成电路测试仪概况 / 上海科学技术情报研究所辑 , |
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ISBN:
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价格： CNY0.20 |
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载体形态:
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36页 18cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1973 |
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主题词:
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集成电路工艺 |
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中图分类法:
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TN4 版次： |