检索条件: 工业技术>无线电电子学、电信技术>微电子学、集成电路(IC)>一般性问题>测试和检验 ( 主题词 )
责任者 王承,刘治国编著
出版信息 国防工业出版社 ,2015.06
ISBN 978 7 118 09986 7
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单板级JTAG测试技术
王承,刘治国编著.国防工业出版社,2015.06.
责任者 王芳,徐振主编
出版信息 浙江大学出版社 ,2014.03
ISBN 978 7 308 12976 3
集成电路芯片测试
王芳,徐振主编.浙江大学出版社,2014.03.
责任者 沈森祖
出版信息 西北工业大学出版社 ,2009.05
ISBN 978 7 5612 2516 5
微电子计量测试技术
沈森祖.西北工业大学出版社,2009.05.
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