检索条件： 集成电路芯片测试 ( 题名 )
责任者 王芳，徐振主编
出版信息 浙江大学出版社 ,2014.03
ISBN 978 7 308 12976 3
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集成电路芯片测试
王芳，徐振主编.浙江大学出版社,2014.03.
责任者 王芳，徐振
出版信息 浙江大学出版社 ,2014
ISBN 978-7-308-12976-3
王芳，徐振.浙江大学出版社,2014.
责任者 居水荣，戈益坚, 戴志强，石兰参
出版信息 西安电子科技大学出版社 ,20210101
ISBN 978-7-5606-5954-1
集成电路芯片测试技术
居水荣，戈益坚, 戴志强，石兰参.西安电子科技大学出版社,20210101.
出版信息 西安电子科技大学出版社 ,2021
居水荣，戈益坚, 戴志强，石兰参.西安电子科技大学出版社,2021.
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